● 可攜帶至現場的手持式 ● 可測量0.1μm單位 ● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量 ● 不論基材材質、可測量其鍍膜
產品信息
特點
● 可攜帶至現場的手持式
● 可測量0.1μm單位
● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
測量項目
選配 筆型探頭
能夠測量狹窄區域或形狀的樣品。 探頭**Φ6mm。
非接觸式載臺
對于濕膜或半導體晶圓等不想接觸的樣品，可以通過自由設定探頭位置進行非接觸測量。