HITACHI日立高分辨熱場發射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series
HITACHI日立SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產品，配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統SEM產品受安裝樣品尺寸與重量的限制，通過簡單的操作即可實現數據采集。可用于鋼鐵等工業材料，汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。
SE系列包括4種型號（兩種類型，兩個等級），滿足眾多領域的測試需求。用戶可以根據實際用途（如微觀結構控制：用于改善電子元件、半導體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產品品質）選擇適合的產品。
HITACHI日立高分辨熱場發射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series產品特點：
熱場SEM支持低真空，搭載超大樣品倉，可擴展實現更多功能
HITACHI日立電子顯微鏡是進行材料形貌評價與分析的重要手段，而且直接觀察樣品的需求很常見。
SU3900/SU3800SE系列搭載牢固的多用途樣品倉，對于非導電性樣品，無需進行導電處理（金屬鍍膜）；對于超大超重樣品，無需進行切割等破環處理，可以直接安裝到樣品臺，實現樣品的多角度觀察。
具有更高的分辨率和樣品極表面信息觀察的能力
此系列搭載新開發的熱場電子槍，在高、低加速電壓條件下，均可獲得超高分辨率圖像。**型號（SE Plus）可以滿足對樣品極表面的觀察需求。
并且，標配的低電壓高靈敏度背散射電子探測器，可以獲取高質量的樣品成分和凹凸信息。SE系列的探測系統，通過選配的UVD探測器，還可以獲得樣品多種類型信息，實現多種模式觀察。
HITACHI日立高分辨熱場發射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series自動化、輔助功能讓操作更便捷
SU3900/SU3800 SE系列配備自動光學系統調整功能，可大量簡化操作流程。
此外，使用選配功能【EM Flow Creator】，可以自動連續獲取圖像。
將條件設置（如放大倍率，樣品臺位置等）、調整對焦/對比度等SEM功能轉化為可組合的模塊，生成一系列觀察程序。每個客戶都可以創建自己的觀察程序。
通過拖拽模塊，可以像流程表一樣創建程序。通過執行創建的程序，即可實現自動觀察。
HITACHI日立高分辨熱場發射掃描電鏡 SU3900/SU3800 SE Series