主營(yíng)產(chǎn)品：代理銷(xiāo)售：HORIBA堀場(chǎng)橢圓偏振光譜儀、HITACHI日立科學(xué)儀器光譜儀、OTSUKA大塚電子、MIKASA勻膠機(jī)、yamada山田鹵素強(qiáng)光燈、KOFLOC小島流量計(jì)、REVOX光箱、日本SSD防靜電、HITACHI日立金屬流量計(jì)、SIBATA柴田科學(xué)、日本ULVAC愛(ài)發(fā)科泵、CEDAR思達(dá)扭力計(jì)、TORAY東麗氣體濃度計(jì)、KOSAKA小坂臺(tái)階儀、TOKYOKEISO東京計(jì)裝流量計(jì)、AND愛(ài)安德、RYUKI東京流機(jī)流量計(jì)、IMV愛(ài)睦威地震儀、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、MITAKA三鷹光器、日本KURABO倉(cāng)紡濃度計(jì).

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HITACHI日立電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）、（SEM）

電子顯微鏡（SEM/TEM/STEM）（場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）、掃描電子顯微鏡（SEM）、臺(tái)式顯微鏡、透射電子顯微鏡（TEM/STEM））。
高分辨熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
SU3900SE/SE Plus SU3800SE/SE Plus
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品，配置超高分辨率與觀察能力，而且不像部分SEM產(chǎn)品，受安裝樣品尺寸與重量的限制，此系列可以通過(guò)簡(jiǎn)單的操作實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集。可用于鋼鐵等工業(yè)材料，汽車(chē)、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。
此外，SE系列包括4種型號(hào)（兩種類(lèi)型，兩個(gè)等級(jí)），滿(mǎn)足眾多領(lǐng)域的測(cè)試需求。用戶(hù)可以根據(jù)實(shí)際用途（如微觀結(jié)構(gòu)控制：用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能；異物、缺陷分析：用于提高產(chǎn)品品質(zhì)）選擇適合的產(chǎn)品。
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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且注重其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8700作為一款面向新時(shí)代的SEM，在日立電鏡貫有的高圖像質(zhì)量和高穩(wěn)定性的基礎(chǔ)上，增加了包括自動(dòng)獲取數(shù)據(jù)等高通量的功能。
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超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展，電子顯微鏡進(jìn)入了一個(gè)不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量，而且重視其采集過(guò)程的時(shí)代。SU8600系列秉承了Regulus8200系列的高質(zhì)量圖像、大束流分析及長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定運(yùn)行的冷場(chǎng)成像技術(shù)，同時(shí)還大大提升了高通量、自動(dòng)數(shù)據(jù)獲取能力。
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超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000II
專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需*大300萬(wàn)倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計(jì)。
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超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000
SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像，而且還可以同時(shí)接收多種信號(hào)。此外，它還具備大視野觀察、In-Situ觀察等FE-SEM的眾多優(yōu)異性能。 SU7000是一臺(tái)實(shí)現(xiàn)了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿(mǎn)足客戶(hù)的多種觀察需求。接下來(lái)請(qǐng)欣賞SU7000帶來(lái)的多彩世界。
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熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000
**的“EM Wizard”界面更加直觀，僅需要“點(diǎn)擊”即可得到理想的圖像。超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。
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光-電聯(lián)用顯微鏡法（CLEM）系統(tǒng) MirrorCLEM
MirrorCLEM是一個(gè)可簡(jiǎn)便觀察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM用系統(tǒng)。
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掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900
日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴(kuò)展性，結(jié)合眾多的自動(dòng)化功能，可高效發(fā)揮其高性能。SU3900標(biāo)配多功能超大樣品倉(cāng)，可應(yīng)對(duì)大型樣品的觀察。
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掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II
“先進(jìn)的SEM更為緊湊” 寬幅僅為45 cm的緊湊型的設(shè)計(jì)，仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面和電子光學(xué)系統(tǒng)讓您深切體驗(yàn)其高性能。
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臺(tái)式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII
TM4000 II可支持20kV的加速電壓。此外，憑借Multi Zigzag（連續(xù)視野捕獲功能：可選）可實(shí)現(xiàn)范圍更廣的SEM觀察。并竭誠(chéng)為您提供可廣泛觀察、分析的應(yīng)用程序。
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TM系列專(zhuān)用能譜儀（EDS）AZtec系列
TM系列專(zhuān)用能譜儀（EDS）AZtec系列的特點(diǎn)是「圖標(biāo)按操作流程順序排列，操作簡(jiǎn)便」，「通過(guò)對(duì)應(yīng)譜圖可簡(jiǎn)單確認(rèn)元素重疊狀況」，是「通過(guò)TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準(zhǔn)確顯示（AZtecOne）」。
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TM系列專(zhuān)用能譜儀（EDS） Quantax75
TM系列專(zhuān)用能譜儀（EDS） Quantax75的特點(diǎn)是「通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線(xiàn)面分布」，「移動(dòng)到指定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖」，是「超高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線(xiàn)分析、面分布結(jié)果」。
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球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000
200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
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透射電子顯微鏡HT7800系列
"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實(shí)現(xiàn)大視野、高對(duì)比度觀察的HT7800和配備高分辨率透鏡的HT7830。
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